Elektronimikroskopia

  • UUTTA! Korkean resoluution pyyhkäisyelektronimikroskooppi (HR-SEM; Carl Zeiss, Sigma HD|VP), näytteiden pintarakenteen monipuoliseen tarkasteluun modernien detektorien ansiosta (SE, In-lens, BSE, STEM, VP). Lisäksi laitteessa on kaksi EDS-detektoria (Thermo Noran, 60 mm2) alkuaineiden nopeaan määritykseen biologisistakin näytteistä. Läpäisymoodissa onnistuu myös ultraohuiden leikkeiden tarkastelu, samoin kuin sähköäjohtamattomien näytteiden tarkastelu on mahdollista säädeltävän tyhjiön kaasunpaineen avulla (Variable Pressure, VP). Myös pinnanrakenteiden 3D-mallin muodostaminen onnistuu erityisellä ohjelmistolla. Laitteella saavutettava erotuskyky on parhaimmillaan n. 1.0 nm (15 kV).
  • Pyyhkäisyelektronimikroskooppi (SEM; Fei Company, XL30 TMP ESEM) jopa kosteiden näytteiden pintarakenteen ja alkuainekoostumuksen tarkasteluun EDS-detektorilla. Suurennos n. 20x - 50 000x. ESEM-moodi kosteiden näytteiden tarkasteluun.
  • Läpäisyelektronimikroskooppi (TEM; JEOL Co, JEM-2100F) näytteiden sisärakenteen tarkasteluun suurella erotuskyvyllä. Soveltuu esim. biologisten solu-, kudos- tai kasvinäytteiden, sekä virusten tai vesikkelien analyysiin. Materiaalitutkimuksessa nanopartikkelit, pinnoitteet ja prosessoidut ohutleikkeet. Suurennos 50x - 1 500 000x tavallisessa TEM-työskentelyssä, laitteen erotuskyky < 0.2 nm. STEM-moodi ja EDS-analysaattori alkuainejakauman määrittämiseen ja SAED kideanalyyseihin. Tyypillinen kiihdytysjännite 200 kV (tai 80 kV).